Cовременное тестовое оборудование и технологии
Рус Eng

Новости

Показать все теги Скрыть
  • совтест ате
  • трафаретная печать
  • совтест
  • nikon metrology
  • совтест микро
  • наконечник
  • обжимное устройство
  • кабель
  • фёдор крекотень
  • производство
  • тестер
  • smt-технология
  • smd-компоненты
  • паяльная паста
  • трафаретный принтер
  • обжим провода
  • интегральные микросхемы
  • ft-17 hf
  • тнт-компонент
  • quadra dvc evo
  • tws-1385 evo
  • sr-2700
  • tws automation
  • рентгеноскопическая система
  • inexiv vma-4540
  • sr-2720
  • полуавтоматический трафаретный принтер
  • монтаж микросхем
  • компьютерная томография
  • seica
  • firefly
  • монтаж больших светодиодных плат
  • аппликатор
февраль 2011
март 2011
апрель 2011
май 2011
июнь 2011
июль 2011
август 2011
сентябрь 2011
октябрь 2011
ноябрь 2011
декабрь 2011
январь 2012
февраль 2012
март 2012
апрель 2012
май 2012
июнь 2012
июль 2012
август 2012
сентябрь 2012
октябрь 2012
ноябрь 2012
декабрь 2012
январь 2013
февраль 2013
март 2013
апрель 2013
май 2013
июнь 2013
июль 2013
август 2013
сентябрь 2013
октябрь 2013
ноябрь 2013
декабрь 2013
январь 2014
февраль 2014
март 2014
апрель 2014
май 2014
июнь 2014
июль 2014
август 2014
сентябрь 2014
октябрь 2014
ноябрь 2014
декабрь 2014
январь 2015
февраль 2015
март 2015
апрель 2015
май 2015
июнь 2015
июль 2015
август 2015
сентябрь 2015
октябрь 2015
ноябрь 2015
декабрь 2015
январь 2016
февраль 2016
март 2016
апрель 2016
май 2016
июнь 2016
июль 2016
август 2016
сентябрь 2016
октябрь 2016
ноябрь 2016
декабрь 2016
январь 2017
февраль 2017
март 2017
апрель 2017
апрель 2016
май 2016
июнь 2016
июль 2016
август 2016
сентябрь 2016
октябрь 2016
ноябрь 2016
декабрь 2016
январь 2017
февраль 2017
март 2017
апрель 2017
2011 февраль
март
апрель
май
июнь
июль
август
сентябрь
октябрь
ноябрь
декабрь
2012 январь
февраль
март
апрель
май
июнь
июль
август
сентябрь
октябрь
ноябрь
декабрь
2013 январь
февраль
март
апрель
май
июнь
июль
август
сентябрь
октябрь
ноябрь
декабрь
2014 январь
февраль
март
апрель
май
июнь
июль
август
сентябрь
октябрь
ноябрь
декабрь
2015 январь
февраль
март
апрель
май
июнь
июль
август
сентябрь
октябрь
ноябрь
декабрь
2016 январь
февраль
март
апрель
май
июнь
июль
август
сентябрь
октябрь
ноябрь
декабрь
2017 январь
февраль
март
апрель
Статьи
Селективная пайка для бережливого производственника
19-04 2017
Селективная пайка для бережливого производственника

Эффективная организация технологических процессов  мощное основание для успеха предприятия и победы в конкурентной борьбе. Предлагаем уважаемым коллегам углубиться в проблематику бережливого производства на примере  технологического процесса селективной пайки миниволной припоя, а конкретнее...

Статьи
Электроконтроль на заводе Tesla в США
22-03 2017
Электроконтроль на заводе Tesla в США

Личный автомобиль давно стал неотъемлемой частью жизни современного человека. Их существует огромное множество и различаются они по ряду характеристик, например, по классу, типу кузова или двигателя и др. Отдельным особняком держатся высокоэкологичные электромобили.

Статьи
Высоким образцам – высокая производительность и разрешение
02-03 2017
Высоким образцам – высокая производительность и разрешение

Компания Nikon расширила возможности своих промышленных систем компьютерной томографии. В программное обеспечение для линейки рентгеноскопических систем и систем компьютерной томографии, начиная с версии Inspect-X 5.1, включена программная опция X.Tend. Данная функция позволяет получать в превосходном...

Статьи
Новые возможности программного обеспечения установок тестирования Condor Sigma
20-02 2017
Новые возможности программного обеспечения установок тестирования Condor Sigma

Не так давно компания XYZTEC - всемирно известный производитель тестеров Condor Sigma - обновила программное обеспечение для установок данной линейки. Обновленное ПО имеет ряд уникальных функций, и чтобы воспользоваться ими, производитель рекомендует бесплатно обновить программное обеспечение. Отметим,...

Статьи
Тестирование покрытий и пленок за 2 минуты вместо 1 дня
02-02 2017
Тестирование покрытий и пленок за 2 минуты вместо 1 дня

С развитием технологий и в стремлении соответствовать самым последним требованиям рынка микроэлектроники специалисты компании XYZTEC – одного из партнёров ООО «Совтест АТЕ» –  постоянно расширяют ряд комплексных тестов, которые можно выполнить на установке Condor Sigma. Одной из последних разработок...

Статьи
Эффективное производство: опыт нового завода «Совтест АТЕ»
17-01 2017
Эффективное производство: опыт нового завода «Совтест АТЕ»

В 2016 году в Курске начал работу новый завод ООО «Совтест АТЕ» по выпуску высокотехнологичной электронной и микроэлектронной продукции.

Статьи
Автоматизация хранения комплектующих на производстве
12-01 2017
Автоматизация хранения комплектующих на производстве

Оптимизация производственных процессов и модернизация технологического оборудования – важный комплекс мер как с точки зрения повышения качества выпускаемой продукции, так и в плане улучшения экономических показателей предприятия.Однако зачастую некоторые моменты, такие как оптимизация логистических операций...

Статьи
Селективная пайка Fine Pitch компонентов, монтируемых в отверстия
20-12 2016
Селективная пайка Fine Pitch компонентов, монтируемых в отверстия

Тенденция миниатюризации SMT-компонентов не оставила в стороне и традиционные выводные компоненты, монтируемые "в отверстия", все еще широко используемые в электронных изделиях. Уменьшение габаритов компонентов и увеличение их функциональности неизбежно приводит к уменьшению шага их выводов....

Статьи
Новые возможности в тестировании материалов
14-12 2016
Новые возможности в тестировании материалов

В связи с возрастающей сложностью современных электронных систем и необходимостью обеспечения их надежности, возникает потребность адаптации инструментов, которые сводят к минимуму риск того, что продукт может иметь дефект в некотором определённом аспекте его функций, качества или структуры. В течение...

Статьи
Доступно о сложном: электрическое тестирование интегральных микросхем
16-11 2016
Доступно о сложном: электрическое тестирование интегральных микросхем

Интегральная микросхема (ИМС) – небольшое устройство, перевернувшее мир. Едва ли найдется человек, не слышавший о микросхемах, ведь сейчас они повсюду – от космических спутников до стиральных машин. Большинство достижений прогресса так или иначе связаны с применением этих небольших, на первый...

Статьи
Организация процесса электрического тестирования крупногабаритных изделий
12-10 2016
Организация процесса электрического тестирования крупногабаритных изделий

Электрическое тестирование крупногабаритных изделий, таких как локомотив, самолет, спецтехника или других, всегда имеет ряд особенностей. Причиной этого являются их размеры и большое количество комплектующих в их составе. Поэтому перед приобретением тестового оборудования необходимо максимально продумать,...

Статьи
Для чего необходимо тестировать соединения?
21-09 2016
Для чего необходимо тестировать соединения?

Электрические соединения и соединения, полученные методом термальной сварки являются неотъемлемой частью электронной и полупроводниковой конструкции, но их значение часто недооценивают. В современных методах сборки электронных компонентов используют множество процессов разварки, каждый из которых является...

Отправить запрос