Современное
тестовое
оборудование и
технологии
wires.sovtest.ru - сайт по оборудованию для подготовки проводов к производству
micro.sovtest.ru - сайт по микроэлектронике
service.sovtest.ru - сайт сервисной службы
mems-russia.ru - сайт Русской Ассоциации МЭМС
RU | ENG


RSS
Публикации
поиск

Наш канал на YouTube
Подписка на нашу рассылку


Подписаться письмом

Новые температурные камеры для испытаний изделий на электромагнитную совместимость



Автор: Гамова А.М. - менеджер по продажам службы испытательного оборудования компании "Совтест АТЕ".
Статья опубликована в журнале "Электроника НТБ" №6 за 2009 год.

Одним из показателей современного общества является насыщенность электрическим, электронным и радиоэлектронным оборудованием. Многочисленные электротехнические и электронные приборы (микроволновые печи, холодильники, устройства для обогрева, пылесосы и так далее) стали принадлежностью повседневного быта. Без этого оборудования практически невозможно представить жизнь современного человека. Для комфортного существования ему просто необходимы радиоприемник, телевизор, телефон и другие средства общения. Радиоэлектронные технологии вошли в структуры управления, навигацию, аэрокосмический комплекс. Мы не можем отказаться от радиосвязи, навигации, систем наведения самолетов, охранных систем и т. д.



Однако, с одной стороны, работа технических средств создает в большей или меньшей степени различные электромагнитные помехи. Происходит загрязнение окружающей среды этими помехами. С другой стороны, само радиоэлектронное оборудование чувствительно к различного рода электромагнитным воздействиям. В результате действия таких помех возникают различные нарушения в работе оборудования, приводящие к выходу его из строя, авариям и сбоям. Последствия их могут быть катастрофическими для населения и окружающей среды. Это и породило такую проблему, как электромагнитная совместимость (ЭМС).

Наиболее характерными примерами проявлений проблемы ЭМС могут быть такие явления, как:
• отказы систем контроля и управления на производстве;
• отказы бортовых систем самолетов и аэродромных систем наведения;
• сбои медицинской аппаратуры диагностики и жизнеобеспечения;
• сбои линий связи;
• потери информации в компьютерах.

Основными источниками электромагнитных воздействий, оказывающими влияние на автоматические и автоматизированные системы управления на станциях и подстанциях являются:
• Переходные процессы в цепях высокого напряжения при коммутациях силовым оборудованием (разъединителями и выключателями).
• Переходные процессы в цепях высокого напряжения при коротких замыканиях, срабатывании разрядников или ограничителей перенапряжений.
• Электрические и магнитные поля промышленной частоты, возникающие вследствие работы силового оборудования электрических станций и подстанций.
• Переходные процессы в заземляющих устройствах подстанций, обусловленные протеканием токов К3 промышленной частоты и токов молнии.
• Переходные процессы при коммутациях в индуктивных цепях низкого напряжения.
• Переходные процессы в цепях различных классов напряжения при прямых ударах молнии в объект или в непосредственной близости от него.
• Радиочастотные поля.
• Разряды статического электричества.

Наука определяет понятие «электромагнитная совместимость» (ЭМС) как способность технических средств (ТС) функционировать с заданным качеством в заданной электромагнитной обстановке, не создавая недопустимых электромагнитных помех другим техническим средствам и не оказывая неблагоприятного влияния на биологические объекты.
При этом для обеспечения электромагнитной совместимости (ЭМС) ТС необходимо регламентировать как уровень излучений, так и уровень помехоустойчивости.



В Европейском союзе был принят ряд директив, устанавливающих обязательность выполнения требований ЭМС. В результате выполнения этих директив в ЕС были приняты нормативные акты в области ЭМС (EN и ETS), развита современная испытательная база, осуществляется обязательное подтверждение соответствия ТС различного назначения требованиям ЭМС.

Стандарты содержат основные требования к методам измерения уровня радиопомех от испытуемой продукции, а также требования к условиям проведения измерений, в т. ч. требования к характеристикам измерительных площадок (открытым и безэховым экранированным камерам) и методы их проверки.

Группа стандартов содержит требования к испытательным сигналам, имитирующим импульсные помехи. Часть стандартов описывают методы испытаний продукции на устойчивость к магнитным полям различного происхождения.

Значительная группа стандартов описывает устойчивость продукции к явлениям нарушений в сети питания, возникающих из-за нестабильности электроустановок и воздействия различных нагрузок, подключаемых к общей электросети.

Стандарты, содержащие требования к различным видам продукции, отличаются тем, что конкретизируют нормированные значения и методы испытаний, учитывая особенности испытуемой продукции и условия ее эксплуатации. В общей сложности действуют более сотни нормативно-технических документов, описывающих требования по ЭМС.

Компания Vötsch совместно с Институтом Электрических Энергетических Систем и Техники Высокого Напряжения Университета города Карлсруе разработали камеру модели VT 4002 MC, которая наряду с контролем обеспечения качества при помощи температурных испытаний предоставляет возможность проведения испытаний на электромагнитную совместимость. Компактные и бесшумные в работе камеры позволяют проводить испытания в рабочих помещениях и маленьких лабораториях.

Структура внутреннего пространства такова, что защитную функцию выполняет внутренний контейнер. Электромагнитная защита обеспечивается всей конструкцией, которая состоит не только из металлического каркаса, но и электрических вводов электропроводки, линий связи, а так же механических выводов (дверь, трубки, соединительная панель).

Целью температурного испытания в экранированной системе является проверка устойчивости образца к экранированному электромагнитному окружению при различных температурах.

В ходе исследование проверяется пригодность образцов к эксплуатации и хранению при низких и высоких температурах.

Технические характеристики модели VT 4002 MC

Объем тестового пространства: 16 л
Температурный диапазон: -35 °C …. +100 °C
Экранирование от паразитного излучения (SE):
- средняя частота: (30 MГц до 1 ГГц ) >дБ 50-70
- высокая частота: ( 1 до 2,8 ГГц ) >дБ 40
Габариты тестового пространства (ш*г*в): 310 x 230 x 205 мм
Электропитание: 1/N/PE AC 230 В ±10%, 50Гц
Потребляемая мощность: 0,7 кВт

Ультразвук контролирует качество теплоотводов



Автор: Бармашов И.С. - руководитель службы производства микроэлектроники, компании "Совтест АТЕ".
Статья опубликована в журнале "Печатный монтаж" №5 за 2009 год.

65-Летний юбилей ООО «ЛПО «Электроаппарат»



Автор: Шестакова Ю.Н. - руководитель службы маркетинга, компании "Совтест АТЕ".


Технология соединения ленточных носителей SMD компонентов



Автор: Чуйкова Л.В. - инженер-технолог службы технологического оборудования, компании "Совтест АТЕ".
Статья опубликована в журнале "Производство Электроники" №6 за 2009 год.

Новые разработки в сфере хранения чувствительных к влажности компонентов



Автор: Гамова А.М. - менеджер по продажам службы испытательного оборудования компании "Совтест АТЕ".
Статья опубликована в журнале "Электроника НТБ" №5 за 2009 год.


Производство солнечных батарей на основе мультикристаллического кремния



Автор: Мухина Е.П. - менеджер по продажам службы микроэлектроники компании Совтест АТЕ.
Статья опубликована в журнале "Производство электроники" №4 за 2009 год.

Обработка коаксиального кабеля –технологии и оборудование



Автор: Требесов Ю.И. - Директор по продажам службы обработки кабеля компании Совтест АТЕ.
Статья опубликована в журнале "Электроника НТБ" №4 за 2009 год.

Технология утонения ультратонких полупроводниковых пластин



Автор: Мухина Е.П. - менеджер по продажам службы микроэлектроники компании Совтест АТЕ.
Статья опубликована в журнале "Электроника НТБ" №3 за 2009 год.

Первичное звено производственного цикла в электронной промышленности



Автор: Чуйкова Л.В., инженер-технолог службы технологического оборудования, ОOО «Совтест АТЕ».
Статья опубликована в журнале "Печатный монтаж" №2 за 2009 год.

Обработка провода и изготовление жгутов и кабелей для авиационно-космической техники



Автор: Голобоков К.Л. - технический директор службы оборудования обработки кабеля компании Совтест АТЕ.
Статья опубликована в журнале "Производство Электроники" №2 за 2009 год.

Технология 3D-сборки на основе метода сквозных отверстий в Si



Авторы: Мухина Е.П. - менеджер по продажам службы микроэлектроники компании Совтест АТЕ.
Башта П.Л. - менеджер по продажам службы микроэлектроники компании Совтест АТЕ.
Статья опубликована в журнале "Электроника НТБ" №2 за 2009 год.

JAPAN UNIX – системы роботизированной пайки для серийного производства.



Автор: Ефанов В.А., инженер службы технологического оборудования, ОOО «Совтест АТЕ».
Статья опубликована в журнале "Печатный монтаж" №1 за 2009 год.

Новые модели установок серии SPA для селективной пайки



Автор: Шведюк Г.В., руководитель службы технологического оборудования, ОOО «Совтест АТЕ».
Статья опубликована в журнале "Электроника НТБ" №1 за 2009 год.

Новая модель температурной шоковой камеры от компании Votsch Industrietechnic GmbH (Германия)



Авторы: Беседин В.Н. - директор по качеству, руководитель службы испытательного оборудования, ООО «Совтест АТЕ».
Гамова А.М. - менеджер службы испытательного оборудования, ООО «Совтест АТЕ».
Статья опубликована в журнале "ЭK" №12 за 2008 год.

Новая серия камер большого объёма Vario от компании Votsch Industrietechnic GmbH (Германия)



Авторы: Черных А.А. - менеджер службы испытательного оборудования, ООО «Совтест АТЕ».
Гамова А.М. - менеджер службы испытательного оборудования, ООО «Совтест АТЕ».
Статья опубликована в журнале "ПЭ" №8 за 2008 год.


Заседание Клуба экспертов



Статья опубликована в журнале "Компоненты и технологии" №1 за 2007 год.

Наноимпринтлитография. Применение автоматов фирмы SET для наноимпринтлитографии



Авторы: Мухина Е.П. - менеджер по продажам службы микроэлектроники компании Совтест АТЕ.
Башта П.Л. - менеджер по продажам службы микроэлектроники компании Совтест АТЕ.
Статья опубликована в журнале "ПЭ" №7 за 2008 год.

Фирма SET. Высокоточные автоматы для установки кристаллов



Авторы: Мухина Е.П. - менеджер по продажам службы микроэлектроники компании Совтест АТЕ.
Башта П.Л. - менеджер по продажам службы микроэлектроники компании Совтест АТЕ.
Статья опубликована в журнале "Электроника НТБ" №7 за 2008 год.

Вакуумные термоупаковщики производства Totech



Автор: Гамова А.М., менеджер службы испытательного оборудования, ОOО «Совтест АТЕ».
Статья опубликована в журнале "Производство электроники" №6 за 2008 год.

Новые возможности автомата трафаретной печати компании SPEEDPRINT



Автор: Ефанов В.А., менеджер службы технологического оборудования, ОOО «Совтест АТЕ».
Статья опубликована в журнале "Печатный монтаж" №5 за 2008 год.


ООО «СОВТЕСТ АТЕ»
Бесплатный номер 8-800-200-54-17
Курск (4712) 54-54-17, 73-04-90
Москва (495) 231-35-63
Санкт-Петербург (812) 740-71-42
e-mail: info@sovtest.ru