Современное
тестовое
оборудование и
технологии
wires.sovtest.ru - сайт по оборудованию для подготовки проводов к производству
micro.sovtest.ru - сайт по микроэлектронике
service.sovtest.ru - сайт сервисной службы
mems-russia.ru - сайт Русской Ассоциации МЭМС
RU | ENG


RSS
Публикации
поиск

Наш канал на YouTube
Подписка на нашу рассылку


Подписаться письмом

Ультразвук контролирует качество теплоотводов



Автор: Бармашов И.С. - руководитель службы производства микроэлектроники, компании "Совтест АТЕ".
Статья опубликована в журнале "Печатный монтаж" №5 за 2009 год.

Производители электроники, ориентируясь на требования сегодняшнего потребителя, стремятся к повышению эффективности своих устройств и уменьшению их габаритов и веса. Одна из главных задач, которые необходимо решить конструкторам для достижения поставленных целей, – это разработка эффективной системы отвода тепла для предотвращения перегрева изделий, что отрицательно сказывается на их характеристиках и надежности.

Как известно, существуют три способа отвода тепла — излучение, конвекция и теплопроводность. И на их основе было разработано множество устройств для отвода тепла от электронных компонентов и систем. Наиболее эффективным способом является, прежде всего, передача тепла через границы раздела двух материалов, которые находятся в тесном контакте. Радиаторы и теплорассеиватели применяют для отвода тепла путем теплопроводности.

Для эффективного отвода тепла необходим тесный контакт между материалами. Крайне важно, чтобы не было пустот в слое клея, который обычно представляет собой хорошо проводящий тепло материал или термопасту. Образование расслоений или иных воздушных образований ухудшает отвод тепла и приводит к перегреву изделия. Поэтому очень важно вовремя выявлять эти дефекты.
Как обнаружить данные дефекты, не разрушая изделие?
При рентгеновском контроле лучи проходят сквозь изделия, небольшие трещины и расслоения не могут помешать прохождению лучей (рис.1), и поэтому на полученных снимках дефект в виде воздушных образований трудно обнаруживается. При ультразвуковом контроле волны не проходят через изделие, а отражаются от границ соприкасающихся материалов разной плотности (см. рис.1), и чем больше отличается плотность этих материалов, тем больше будет амплитуда отраженного сигнала.


Рис.1. Сравнение методов контроля


Так как плотность воздуха очень мала по сравнению с любым из твердых или жидких материалов, то расслоения и прочие воздушные образования четко отображаются на изображениях, полученных при помощи ультразвукового сканирования.
Тепло передается от кристалла в слой клея, затем на радиатор, а оттуда в атмосферу (рис.2). Чтобы увеличить рассеиваемую мощность на единицу объема, необходимо выбирать высокоэффективные радиаторы и теплорассеиватели.


Рис.2. ИС в корпусе PQFP


Отвод тепла значительно уменьшается при наличии воздушных образований, они будут препятствовать передаче тепла, потому что воздух имеет очень низкую теплопроводность 0,025 Вт/м∙К. Пустоты большой площади могут значительно снизить теплопроводность тех областей, где расположен кристалл (или его часть), и в результате он сильно нагревается.
Пустоты и аналогичные дефекты могут быть обнаружены акустическими микроскопами, они чувствительны к изменениям свойств материалов на границе материалов. Примером такого оборудования могут служить системы Sonikon фирмы iHs (Малазия). Модель Velox, предназначена для единичного и мелкосерийного производства (рис.3). Эта система позволяет тестировать сложные микросборки и микросхемы большой степени интеграции в корпусах BGA, MBGA, Flip Chip, CSP и т.д.


Рис.3.Ультразвуковой микроскоп Velox фирмы iHs (Малазия)


Акустическое изображение дефекта приклейки кристалла для ИМС в корпусе PQFP представлено на рис.4. Серые области свидетельствуют о хорошем контакте кристалла с формовочным соединением при помощи клея, а белые — об отсутствии соединения, т.е. теплопроводный клей не растекся по всей площади кристалла, что привело к образованию воздушной пробки, которая будет оказывать негативное влияние на теплообмен и может привести к перегреву изделия.


Рис.4. Акустическое изображение дефекта в области приклейки кристалла


Программное обеспечение ультразвуковой системы Velox позволяет получать акустическое изображение сразу нескольких слоев (рис.5). Это значительно уменьшает время на тестирование изделия.
На рис.6, 7, 8, 9 показаны разноуровневые слои изделия специального назначения. Изделие представляет собой плату из поликора с СВЧ-элементами, которая припаяна к радиатору. Использование ультразвуковой системы Velox позволило определить качество припайки платы к радиатору.


Рис.5. Многослойное сканирование



Рис.6. Верхний слой изделия



Рис.7. Граница касания платы и припоя



Рис.8. Слой припоя



Рис.9. Граница касания радиатора и припоя



Результаты анализа акустического изображения в программе QSonik Analysis


Для четкого наглядного представления воздушные образования можно автоматически выделить цветом (рис.10). С помощью программы QSonik Analysis можно провести анализ изображения, сделать замеры и автоматически подсчитать площадь воздушных образований (см. таблицу). Надо отметить, что для изделия специального назначения такое количество воздушных образований недопустимо, поскольку отвод тепла будет затруднен.


Рис.10. Выделение цветом областей с воздушными образованиями

Программа VTM, поставляемая вместе с системой Velox, позволяет смоделировать трехмерное изображение (рис. 11,12).


Рис.11. Акустическое изображение дефекта приклейки кристалла



Рис.12. 3D представление дефекта приклейки кристалла





65-Летний юбилей ООО «ЛПО «Электроаппарат»



Автор: Шестакова Ю.Н. - руководитель службы маркетинга, компании "Совтест АТЕ".


Технология соединения ленточных носителей SMD компонентов



Автор: Чуйкова Л.В. - инженер-технолог службы технологического оборудования, компании "Совтест АТЕ".
Статья опубликована в журнале "Производство Электроники" №6 за 2009 год.

Новые температурные камеры для испытаний изделий на электромагнитную совместимость



Автор: Гамова А.М. - менеджер по продажам службы испытательного оборудования компании "Совтест АТЕ".
Статья опубликована в журнале "Электроника НТБ" №6 за 2009 год.

Новые разработки в сфере хранения чувствительных к влажности компонентов



Автор: Гамова А.М. - менеджер по продажам службы испытательного оборудования компании "Совтест АТЕ".
Статья опубликована в журнале "Электроника НТБ" №5 за 2009 год.


Производство солнечных батарей на основе мультикристаллического кремния



Автор: Мухина Е.П. - менеджер по продажам службы микроэлектроники компании Совтест АТЕ.
Статья опубликована в журнале "Производство электроники" №4 за 2009 год.

Обработка коаксиального кабеля –технологии и оборудование



Автор: Требесов Ю.И. - Директор по продажам службы обработки кабеля компании Совтест АТЕ.
Статья опубликована в журнале "Электроника НТБ" №4 за 2009 год.

Технология утонения ультратонких полупроводниковых пластин



Автор: Мухина Е.П. - менеджер по продажам службы микроэлектроники компании Совтест АТЕ.
Статья опубликована в журнале "Электроника НТБ" №3 за 2009 год.

Первичное звено производственного цикла в электронной промышленности



Автор: Чуйкова Л.В., инженер-технолог службы технологического оборудования, ОOО «Совтест АТЕ».
Статья опубликована в журнале "Печатный монтаж" №2 за 2009 год.

Обработка провода и изготовление жгутов и кабелей для авиационно-космической техники



Автор: Голобоков К.Л. - технический директор службы оборудования обработки кабеля компании Совтест АТЕ.
Статья опубликована в журнале "Производство Электроники" №2 за 2009 год.

Технология 3D-сборки на основе метода сквозных отверстий в Si



Авторы: Мухина Е.П. - менеджер по продажам службы микроэлектроники компании Совтест АТЕ.
Башта П.Л. - менеджер по продажам службы микроэлектроники компании Совтест АТЕ.
Статья опубликована в журнале "Электроника НТБ" №2 за 2009 год.

JAPAN UNIX – системы роботизированной пайки для серийного производства.



Автор: Ефанов В.А., инженер службы технологического оборудования, ОOО «Совтест АТЕ».
Статья опубликована в журнале "Печатный монтаж" №1 за 2009 год.

Новые модели установок серии SPA для селективной пайки



Автор: Шведюк Г.В., руководитель службы технологического оборудования, ОOО «Совтест АТЕ».
Статья опубликована в журнале "Электроника НТБ" №1 за 2009 год.

Новая модель температурной шоковой камеры от компании Votsch Industrietechnic GmbH (Германия)



Авторы: Беседин В.Н. - директор по качеству, руководитель службы испытательного оборудования, ООО «Совтест АТЕ».
Гамова А.М. - менеджер службы испытательного оборудования, ООО «Совтест АТЕ».
Статья опубликована в журнале "ЭK" №12 за 2008 год.

Новая серия камер большого объёма Vario от компании Votsch Industrietechnic GmbH (Германия)



Авторы: Черных А.А. - менеджер службы испытательного оборудования, ООО «Совтест АТЕ».
Гамова А.М. - менеджер службы испытательного оборудования, ООО «Совтест АТЕ».
Статья опубликована в журнале "ПЭ" №8 за 2008 год.


Заседание Клуба экспертов



Статья опубликована в журнале "Компоненты и технологии" №1 за 2007 год.

Наноимпринтлитография. Применение автоматов фирмы SET для наноимпринтлитографии



Авторы: Мухина Е.П. - менеджер по продажам службы микроэлектроники компании Совтест АТЕ.
Башта П.Л. - менеджер по продажам службы микроэлектроники компании Совтест АТЕ.
Статья опубликована в журнале "ПЭ" №7 за 2008 год.

Фирма SET. Высокоточные автоматы для установки кристаллов



Авторы: Мухина Е.П. - менеджер по продажам службы микроэлектроники компании Совтест АТЕ.
Башта П.Л. - менеджер по продажам службы микроэлектроники компании Совтест АТЕ.
Статья опубликована в журнале "Электроника НТБ" №7 за 2008 год.

Вакуумные термоупаковщики производства Totech



Автор: Гамова А.М., менеджер службы испытательного оборудования, ОOО «Совтест АТЕ».
Статья опубликована в журнале "Производство электроники" №6 за 2008 год.

Новые возможности автомата трафаретной печати компании SPEEDPRINT



Автор: Ефанов В.А., менеджер службы технологического оборудования, ОOО «Совтест АТЕ».
Статья опубликована в журнале "Печатный монтаж" №5 за 2008 год.


ООО «СОВТЕСТ АТЕ»
Бесплатный номер 8-800-200-54-17
Курск (4712) 54-54-17, 73-04-90
Москва (495) 231-35-63
Санкт-Петербург (812) 740-71-42
e-mail: info@sovtest.ru