Перейти к основному содержанию

Тестирование и диагностика

SFL3000

Совтест (Россия)
Локализатор неисправностей SFL3000

Работа приборов основана на использовании метода аналогового сигнатурного анализа (ASA), иногда этот метод называют VI (напряжение - ток).
Локализатор неисправностей имеет собственную память на 128 сигнатур.

Технические характеристики:
Диапазоны тестирования: 1 В,500 мкА ; 10 В,5 мА; 10 В,150 мА; 20 В,1 мА; 40 В,1 мА.
Частотные диапазоны: 50 Гц, 100 Гц, 500 Гц, 1000 Гц, 2000 Гц
Импульсный генератор:  ± 7,5 В (регулируемый)
Регулировка чувствительности: 1 – 99%
Режимы работы:
- Режим Реального времени
- Режим быстрого тестирования

SFL2500

Совтест (Россия)
Локализатор неисправностей SFL2500

Работа приборов основана на использовании метода аналогового сигнатурного анализа (ASA), иногда этот метод называют VI (напряжение - ток).
Локализатор неисправностей имеет собственную память на 128 сигнатур.

Технические характеристики:
Диапазоны тестирования: 1 В, 500 мкА ; 10 В, 5 мА; 10 В, 150 мА; 20 В, 1 мА; 40 В,1 мА.
Частотные диапазоны: 50 Гц, 100 Гц, 500 Гц, 1000 Гц, 2000 Гц
Импульсный генератор:  ± 7,5В (регулируемый)
Регулировка чувствительности: 1 – 99%
Режимы работы:
- Режим Реального времени

SFL1500

Совтест (Россия)
Локализатор неисправностей SFL1500

Работа приборов основана на использовании метода аналогового сигнатурного анализа (ASA), иногда этот метод называют VI (напряжение - ток).
Локализатор неисправностей имеет собственную память на 128 сигнатур.

Технические характеристики:
Диапазоны тестирования: 1 В, 500 мкА ; 10 В, 5 мА; 10 В,150 мА; 20 В,1 мА; 40 В,1 мА.
Частотные диапазоны: 50 Гц, 100 Гц, 500 Гц, 1000 Гц, 2000 Гц
Импульсный генератор:  ± 7,5В (регулируемый)
Регулировка чувствительности: 1 – 99%
Режимы работы:
- Режим Реального времени
- Режим быстрого тестирования

6В

Nikon Metrology (Бельгия)
Автоколлиматор 6В

Светлопольная модель автоколлиматора использует фирменную оптику Nikon для подсветки деталей поверхности.
Автоколлиматор 6В от Nikon проверяет совмещение и измеряет даже самые маленькие угловые девиации в целях измерения плоскостности или высоты по простым геометрическим параметрам. Модель 6В для работы по методу светлого поля проецирует темный крест и освещает поверхность, что дает возможность рассмотреть мельчайшие детали. Обеспечивает погрешность измерений до 0,5 угловых секунд.

INEXIV VMA2520

Nikon Metrology (Бельгия)
Видеоизмерительная система INEXIV VMA2520

iNEXIV VMA-2520 - это новая измерительная система с несколькими датчиками, достаточно легкая и компактная для использования в заводских условиях на рабочей поверхности, быстрая, полностью автоматическая и высокоточная, что делает ее идеальным решением для широкого ряда вариантов применения в сфере промышленных измерений и контроля качества.

MM400/800

Nikon Metrology (Бельгия)
Измерительные микроскопы MM400/800

MM400/800 – это новая серия микроскопов, разработанная для промышленных измерений и анализа изображений. Они интегрируют важнейшие функции и дают полный цифровой контроль за максимальной точностью измерений для самых сложных промышленных задач. Системы поддерживают множество новых и расширенных функций, включая соединение через электронный сетевой концентратор от Nikon, которое обеспечивает полную интеграцию периферийных устройств микроскопа посредством нового метрологического программного обеспечения Nikon EMAX2.

Процессор

L300

Nikon Metrology (Бельгия)
Микроскопы для контроля качества пластин серии L300

Разработанные для контроля качества 300-мм пластин и фотошаблонов, микроскопы серии Eclipse L300 соответствуют также требованиям, предъявляемым к конечному контролю качества плоских панелей, включая ЖК-панели. В микроскопах модели L300 используется знаменитая оптическая система CFI60 от Nikon, которая обеспечивает высокое разрешение, контраст и коэффициент пропускания.

L200

Nikon Metrology (Бельгия)
Микроскопы для контроля качества пластин серии L200

В сочетании с передовой оптической системой CFI60 LU/L от Nikon и новой системой освещения данный микроскоп обеспечивает получение изображений великолепной контрастности, высокого разрешения, а картинка в темном поле теперь в три раза ярче, чем в микроскопах предыдущего поколения. Самостоятельно или в комбинации с загрузчиком пластин микроскопы серии L200 обеспечивают исключительную точность в процессе оптического контроля полупроводниковых пластин, фотошаблонов, сеток и прочих подложек.

Выбор из 3-х моделей

LV150

Nikon Metrology (Бельгия)
Прямые промышленные микроскопы серии LV150

Передовая оптика, цифровые возможности и модульная конструкция микроскопов серии Eclipse LV150 обеспечивают беспрецедентный уровень универсальности и гибкости, который позволяет им работать с широким рядом продуктов и задач от проектирования и контроля качества до контроля на производстве. Данные микроскопы обеспечивают превосходную производительность при контроле качества полупроводников, плоских панелей, корпусов электронных/оптических устройств, электронных подложек, материалов, медицинских приборов и множества других образцов.

MA200

Nikon Metrology (Бельгия)
Инвертированный металлографический микроскоп MA200

Eclipse MA200 - это инвертированный микроскоп с инновационной конструкцией, оптимизированной с учетом требований эргономики и цифрового документирования. В модели МА200 используется интегрированная система искусственного интеллекта для автоматического комбинирования полученных изображений с данными о настройках наблюдения, что обеспечивает еще более всестороннее документирование.